jtag邊界掃描測試的原理

日期:2021-07-25 20:42
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摘要:
 
       IEEE 1149.1 標準規定了一個四線串行接口(第五條線是可選的),該接口稱作測試訪問端口(TAP),用于訪問復雜的集成電路(IC),例如微處理器、DSP、ASIC和CPLD。除了TAP之外,混合IC也包含移位寄存器和狀態機,以執行邊界掃描功能。在TDI(測試數據輸入)引線上輸入到芯片中的數據存儲在指令寄存器中或一個數據寄存器中。串行數據從TDO(測試數據輸出)引線上離開芯片。jtag邊界掃描測試邏輯由TCK(測試時鐘)上的信號計時,而且TMS(測試模式選擇)信號驅動TAP控制器的狀態。TRST(測試重置)是可選項。在PCB上可串行互連多個可兼容掃描功能的IC,形成一個或多個掃描鏈,每一個鏈都由其自己的TAP。每一個掃描鏈提供電氣訪問,從串行TAP接口到作為鏈的一部分的每一個IC上的每一個引線。在正常的操作過程中,IC執行其預定功能,就好像邊界掃描電路不存在。但是,jtag邊界掃描測試當為了進行測試或在系統編程而激活設備的掃描邏輯時,數據可以傳送到IC中,并且使用串行接口從IC中讀取出來。這樣數據可以用來激活設備核心,將信號從設備引線發送到PCB上,讀出PCB的輸入引線并讀出設備輸出。




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