ict的TESTJET的用途及故障判斷

日期:2021-07-30 06:39
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摘要:

                                          ICT的TESTJET的用途及故障判斷

現在主要的ICT機器都有TESTJET功能,其主要功能有:
1,測試集成電路IC的開路及短路和反件,
2,連接器的開路,
3,電解電容的極性.

原理就是送個正弦信號到待測元器件針腳,然后通過感應器量測其耦合電容的變化,今天和大家分享下我在使用testjet這種測試技術及硬件時遇到的問題和解決方法。大家知道當我們發現Testjet測試失敗是,程序顯示給我們的錯誤信息一般是某個器件的引腳開路,譬如u1.1 xxxx,u100.F5 xxxx,J1.12 xxxx 等等信息,xxxx包含這個PIN的測試失敗值。
主要的非待測板問題的故障。

  1. Testjet的感應片磨損或壞了–這個是因為使用時間長導致,解決辦法:換個新的就OK.
  2. Testjet的放大器壞了–這個是因為使用時間長導致,解決辦法:新的就OK.
  3. Testjet的接線松散或脫落,重新接線就OK了
  4. Testjet的MUX card有問題–這種情況一般在使用新夾具會碰到,這是因為mux card不是原產質量不過關造成,直接聯系供應商更換.
  5. Tesjet的轉接針故障包含轉接對位不準或是針孔太小–這種情況當目視不準后,要聯系供應商的機構工程師解決。不懂的別拆,機構的很多零件是互組的,裝不好會引起其他位置不準.
  6. Testjet的MUX card的接線錯誤–這包含兩種情況,一是mux card 10pin 連接器J1到BRC的接線有誤,一種是mux card的port口到testjet的接線錯誤
  7. 系統故障–這種情況一般很少出現,如果以上都排除了再確認系統的control card 本身是否有問題。

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